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激光測量設備

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諧波法微納材料熱物性測量儀器
傳統測試方法無法滿足新型微納尺度材料熱物性的精確測量要求。諧波法微納材料熱物性測量系統可以實現幾乎所有類型微納材料的熱物性測量，諧波法微納材料熱物性測量儀器

型號：廠商性質：代理商
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昊量光電自主千元級被動隔振平臺訂制
昊量光電自主千元級被動隔振平臺訂制廣泛應用于光學，電子，精密機械制造，冶金，航天，航空，航海，精密化工和無損檢測等領域，以及其他機械行業的精密試驗儀器，設備振動隔離的關鍵裝置中。

型號：廠商性質：代理商
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綜合電子測量分析儀（十二功能合一）
綜合電子測量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下，同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數據通道。頻譜分析儀還具有兩個集成的波形發生器，能夠產生高達250 MHz的正弦波。

型號：廠商性質：代理商
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桌面主動隔振臺
桌面主動隔振臺的穩定時間非常短，除此之外，它主要的優點是很弱的低頻共振，低頻共振是主動減震臺和被動減震臺的主要區別，在低頻率震動中，被動隔震臺將會放大振動而不是隔離振動。隔震臺的工作不需要壓縮空氣，只需要供應電源的插座。在所有六個自由度的方向上， i4系列隔震臺都提供了主動補償，以實現隔震效果。

型號：廠商性質：代理商
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桌面主動隔振臺-Herzan/Table Stable
桌面主動隔振臺-Herzan/Table Stable 應用：大多數測量設備都可以通過消除額外的振動，達到超高的分辨精度。特別是對于5Hz以下振動頻率敏感的設備，可以通過使用TS系列主動隔振大大提高效果。

型號：廠商性質：代理商
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TMC AMETEK Everstill 桌面主動隔振臺
TMC AMETEK Everstill 桌面主動隔振臺：通過運用TMC STACIS壓電消振系統，Everstill系統可以消除低至0.7Hz的振動。通過專門針對低頻的消除設計，Everstill系列在1到10H有很好表現。

型號：廠商性質：代理商
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FR-103kHz實時測量自相關儀
實時測量自相關儀FR-103kHz基于其創新性的微分延遲配置，特別適用于測量kHz頻率的放大器脈沖，能夠實現實時測量。

型號：FR-103kHz 廠商性質：代理商
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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復精度達到了50皮米。quDIS可同時支持三個測量通道，使其可以適用于任意的多軸測量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

型號：quDIS 廠商性質：代理商
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ArisTT系列桌面式主動隔震平臺/隔振臺
昊量光電新推出AFM、STM、臺式掃描電鏡、數字顯微鏡，SEM/TEM等的主動隔振解決方案，采樣*解耦的結構設計，有效隔離了來自地板的振動和由工具產生的振動，實現六自由度主動隔振，體積小質量輕負載能力強，易于集成到各類工作環境中，有效改善顯微鏡性能和圖像質量。桌面式主動隔震平臺/隔振臺

型號：ArisTT系列廠商性質：代理商
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SHR-IR近紅外激光波長計/光譜儀
SHR-IR是一款理想的用來測量脈沖激光器、連續激光器或二極管波長的波長計/光譜儀，波長范圍600-1800nm，精度±15pm。近紅外激光波長計/光譜儀

型號：SHR-IR 廠商性質：代理商
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（190nm-5000nm）高功率寬光譜光束質量分析儀 KLT-UBP
直觀易用、與波長無關的獨立光束分析解決方案，適用于高功率測量以及寬光譜測量。高功率寬光譜光束質量分析儀 KLT-UBP （190nm-5000nm）

型號：（190nm-5000nm）廠商性質：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。白光干涉儀

型號：Xper WLI 廠商性質：代理商
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