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激光測量設(shè)備

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直接激光干涉圖形加工器
直接激光干涉圖形加工器可以利用脈沖激光簡便地、高速地在大范圍區(qū)域形成周期性幾何形狀從而直接燒蝕材料表面。

型號：廠商性質(zhì)：代理商
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激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無損檢測
激光剪切散斑干涉系統(tǒng)——NDT無損檢測是所有的光學(xué)模組和激光器集成在一個手持式，耐用和輕便的機(jī)殼中，接通電源，通過USB連接到電腦，就可以開始檢測了。

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光纖法布里-珀luo干涉儀
光纖法布里-珀luo干涉儀系列產(chǎn)品基于具有平滑、均勻間隔傳輸峰的固定干涉儀設(shè)計(jì)。FFP 的設(shè)計(jì)簡潔優(yōu)雅的關(guān)鍵在于其無透鏡全光纖結(jié)構(gòu)。沒有準(zhǔn)直光學(xué)器件或透鏡，消除了其他法布里-珀羅元件技術(shù)的缺陷，包括未對準(zhǔn)、環(huán)境敏感性和外來模式。FFP 波器遵循 Airy 函數(shù)。工程師可以將其設(shè)計(jì)到 OEM 系統(tǒng)中，因?yàn)樗麄冎浪鼘⑻峁┓浅＝咏碚摂?shù)學(xué)模型的結(jié)果。

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皮米級絕對距離測量干涉儀
皮米級絕對距離測量干涉儀通過將可調(diào)激光器的頻率鎖定到F-P干涉儀的的諧振頻率上，將干涉儀的位移測量轉(zhuǎn)換為頻率變化的測量。當(dāng)F-P腔長在變化時，其諧振峰的頻率也在發(fā)生變化，通過測量初始腔長，初始頻率和頻率變化，就可實(shí)現(xiàn)測量腔長。

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多波長動態(tài)干涉儀
Kaleo MultiWAVE多波長動態(tài)干涉儀同時可提供媲美Fizeau干涉儀測量精度，及動態(tài)干涉儀的抗震性能。

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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測量窄帶太赫茲輻射的波長和強(qiáng)度分布，同時也可用于脈沖和連續(xù)窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個半透明平行硅鏡組成，其中一個安裝在電機(jī)驅(qū)動的線性致動器上。

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KALEO法國Phasics多波長激光干涉儀模塊
KALEO套件多波長激光干涉儀模塊是用于光學(xué)計(jì)量的模塊化系統(tǒng)。它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶搭建一個經(jīng)濟(jì)有效，體積緊湊且易于使用的完整光學(xué)測試系統(tǒng)。法國Phasics多波長激光干涉儀模塊

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點(diǎn)衍射激光干涉儀
點(diǎn)衍射激光干涉儀: 絕對測量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重復(fù)精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

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半導(dǎo)體/薄膜無損檢測儀
半導(dǎo)體/薄膜無損檢測儀：半導(dǎo)體行業(yè)為我們周圍遇到的大多數(shù)電子設(shè)備提供了基本組件。它的制造需要在硅晶片上進(jìn)行多次薄膜沉積，。

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綜合電子測量分析儀（十二功能合一）
綜合電子測量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下，同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數(shù)據(jù)通道。頻譜分析儀還具有兩個集成的波形發(fā)生器，能夠產(chǎn)生高達(dá)250 MHz的正弦波。

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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進(jìn)行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復(fù)精度達(dá)到了50皮米。quDIS可同時支持三個測量通道，使其可以適用于任意的多軸測量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統(tǒng)激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準(zhǔn)參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

型號：quDIS 廠商性質(zhì)：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學(xué)檢測儀器。白光干涉儀

型號：Xper WLI 廠商性質(zhì)：代理商
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