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Product catalog

精密定位系統/平移臺

2022
6.17

ARCoptix小型傅里葉紅外光譜儀助力硅太陽能電池檢測

ARCoptix小型傅里葉紅外光譜儀助力硅太陽能電池檢測硅太陽能電池我們使用ARCspectroFTinterferometer在600-1300nm近紅外區域測量硅太陽能電池的光譜響應。此光譜儀有兩個光纖接口，一個接口用來連接光源（此處使用的是商用鹵素光源），另一個接口用來連接調制光源的輸出。光譜儀模塊上的連接器允許將外部探測器（此處是硅太陽能電池）連接到內部放大器上。整個系統如下圖1所示--圖1--通過具有調制光束的光纖來照射太陽能電池，通過傅里葉變換從干涉圖中提取光譜。...
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2022
6.17

Mirrorcle MEMS掃描鏡技術概述（1）

MirrorcleMEMS掃描鏡技術概述（1）高速的點到點以及傾斜性能大多數的MirrorcleMEMSMirror設備類型都是為點對點光束掃描而設計和優化的。穩態模擬驅動電壓會產生MEMS鏡像的穩態模擬轉角。該設備有一個一對一的對應的驅動電壓和角度:它是高度可重復的，沒有檢測到隨時間而發生變化。這在很大程度上是由于靜電驅動方法和單晶硅材料的選擇。鏡面運行機構開環驅動的機械傾斜位置精度在每軸上至少14位(16384點)。對于大多數設備，每個軸上的機械傾斜范圍為-5°到+5°，...
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2022
6.17

Mirrorcle MEMS掃描鏡技術概述（2）

MirrorcleMEMS掃描鏡技術概述（2）*的四象限傾斜性能幾年前，MirrorcleTech的無框架技術還處于發展的早期階段，在一代ARIMEMS1到ARIMEMS6中制造的所有設備都是單象限(1Q)或單向類型設備。這指的是每個軸(仍然是兩軸或雙軸2D設備)能夠使鏡子從靜止位置(0°)偏轉到一邊(例如+8°)，但不能偏轉到另一邊(例如-8°)。因此，典型的一象限(1Q)設備實現了X軸上0°到+8°的機械傾斜，Y軸上0°到+8°的機械傾斜。今天，在MEMS鏡面行業的產品中...
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2022
6.16

顯微鏡光源：Lumencor用光的力量推進生命科學研究

顯微鏡光源：Lumencor用光的力量推進生命科學研究光學顯微鏡技術是細胞生物學、神經科學、藥理學、基因組學、生物醫學工程、微生物學、生理學等生命科學領域研究的核心,而顯微鏡光源，直接決定了樣本的成像質量。zhong所周知，傳統的顯微光源有鹵鎢燈、等離子電弧放電燈或掃描激光束、氙燈，但隨著使用年限的增長這些傳統的顯微光源會出現閃爍，并且有包含尖峰輸出的不規則光譜，對顯微成像造成影響。今天，它們在很大程度上被LED固態光源以及激光光源所取代，精準、智能的LED冷光源、激光光源時...
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2022
6.16

超連續譜激光器用于光片熒光顯微鏡

超連續譜激光器用于光片熒光顯微鏡光片熒光顯微鏡的優點光片熒光顯微鏡（LSFM）是一種可以對活體標本進行快速且無光毒性3D觀測的強大顯微成像技術。LSFM技術將寬場成像的速度與適度的光學切片和低光漂白特點相結合，因此也被稱為選擇性平面照明顯微鏡（SPIM），或簡稱為“光片”。SPIM或LSFM共同的定義特征是從側面對焦平面進行平面照明，在任何給定時間，僅對樣品的一小部分進行照明，因此與寬場輻射熒光相比，可以最大限度地減少光損傷并提供改善信噪比的光學切片。此外由于圖像是以寬場（2...
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2022
6.1

純相位空間光調制器在PSF工程中的應用

純相位空間光調制器在PSF工程中的應用一、引言2014年諾貝爾化學獎揭曉，美國及德國三位科學家EricBetzig、StefanW.Hell和WilliamE.Moerner獲獎。獲獎理由是“研制出超分辨率熒光顯微鏡”，從此人們對點擴散函數(PSF)工程的認識有了顯著提高。Moerner展示了PSF工程與MeadowlarkOpticsSLM的使用案例，用于熒光發射器的超分辨率成像和3D定位。PSF工程已被證明使顯微鏡能夠使用多種成像模式對樣本進行成像，同時以非機械方式在模式...
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2022
5.24

用于等效時間采樣應用的空間多路單腔雙光梳激光器

1．介紹雙光學頻率梳(簡稱雙光梳)[1]的概念在光頻梳被提出后不久被引入[2-4]。在時域上，雙光梳可以理解為兩個相干光脈沖序列，它們的重復頻率有輕微的偏移。自問世以來，雙光梳光源及其應用一直一個重要研究課題[5]。雙光梳光源與早期用于泵浦探測測量的激光系統有許多相似之處。特別是，利用兩種不同重復頻率對超快現象進行采樣的想法，早在20世紀80年代就已經通過等效時間采樣概念的演示進行了探索[6,7]。在這種情況下，通過frep/的因子，超快動態過程在時域中被縮小到更慢的等效時間...
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2022
5.19

膜厚測量儀可以測量氟碳漆厚度嗎

問：膜厚測量儀可以測量氟碳漆厚度嗎？答：可以的，可以根據氟碳漆的基材種類選擇不同測量原理的膜厚測量儀，當然能選擇鐵鋁兩用分體款則*。鋼結構氟碳漆由氟碳樹脂、助劑、優質顏填料、溶劑等研制而成的，成分中并不包含強磁金屬元素。所以鋼結構氟碳漆可以用磁性法膜厚測量儀進行漆膜測厚儀測量。如果氟碳漆作為鋁合金，不銹鋼基材的面漆時，往往會與磷化底漆(15um)搭配，由于成分不含強導電性，所以一般使用渦流法膜厚測量儀進行測量其漆膜厚度。膜厚測量儀可以測量氟碳漆厚度嗎鋼結構氟碳漆分為半光型、啞...
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